PURE-SEM是具有高清度，高放大率，高性能的场发射扫描电子显微镜。PURE-SEM结合了传统SEM的性能，但在大小，价格和易操作方面超越了落地式扫描电子显微镜。 特点： ◆ 分辨率和成像质量等同于传统的落地式扫描电镜 ◆ 采用单色性更好，使用寿命优于10000小时的肖特基热场发射灯丝 ◆ 性能价格比高 ◆ 对环境、电源要求低，设备尺寸：560mm(长)*390mm（宽）*580mm（高） ◆ 景深大，立体结构观察。图象质量高，能获得高分辨率和高衬度的图像 ◆ 结构优化，核心元件达到晶元尺度，在低压条件下，得到高分辨的成像结果 ◆ 配置真空锁装置：真空分级,从载样到抽真空成电子像时间小于30s，同时低真空观测灯丝寿命不受影响，并且软件有灯丝使用时间记录系统 ◆ 台式设计，可随意移动，防震性能良好，无需专门的防震台 ◆ 全新结构设计，极靴角度最大化，原厂能谱电镜一体化设计，数据稳定传输，后期维护方便 技术指标： 1、电子放大倍数:50X~1,000,000X； 2、彩色光学显微镜放大倍数:20-210X，可获得明场，暗场像； 3、分辩率:1.5nm@20KV SED,6nm@5KV SED； 4、加速电压:1kv-30kv，连续可调，步径0.1KV； 5、探测器: SED(高真空二次电子探测器)，BSD(背散射电子探测器)/EDS(能谱仪)； 6、图像大小:960*960，1920*1920，3840*3840，7680*7680； 7、数据显示:Micron Bar, Magnificaiton, Date,Kv； 8、电压:110v或220v； 9、可选性强，可选配原装一体化能谱仪EDS/波谱仪WDS； 10、具有二次电子探测器(与通常大电镜使用的探测器同，图像质量好)，背散射电子探测器可选； 11、单视场高通量采集耗时:1.2s ； 12、图像格式： JPG，TIFF，BMP，PNG； Pure-SEM系统由PURE-SEM，QDD先进的探测器技术和NanoAnalysis软件组成。运用能量分散光谱（EDS/EDX）技术时，添加QDD，无液氮高速X射线探测器和 X射线NanoAnalysis软件（光谱采集模式，高级图像采集模式和高级元素绘图模式）到其中，可在几秒内分析样品的元素成分和描绘元素相关位置。激活任一高级绘图功能来确定元素的空间位置，通过使用任何以下绘图模式来完成：点式，多点式，线扫描，区域绘图，变焦绘图，索引绘图和痕量感光分析（T.S.A）的索引绘图。 NanoAnalysis系统的高级绘图功能包括索引绘图（用于图像的每个像素的一段光谱）和T.S.A（痕量感光分析），后者能测定整个样品中J微量的物质浓度。 索引绘图的最大优势是它能保存整个实验，因此你可以在任何工作地点的任何时候检索原始数据。 该系统设计成实用，易操作且购买得起的。几秒钟内从50X到200000X 变焦。自动聚焦，亮度和对比度自动调整让每张图片都很完美。