PURE-SEM是具有高清度，高放大率，高性能的台式扫描电子显微镜。PURE-SEM结合了传统SEM的性能，但在大小，价格和易操作方面超越了落地式扫描电子显微镜。 特点： ◆ 分辨率和成像质量等同于传统的落地式扫描电镜 ◆ 采用单色性更好，使用寿命优于1500小时的CeB6晶体灯丝 ◆ 性能价格比高 ◆ 对环境、电源要求低 ◆ 景深大，立体结构观察。图象质量高，能获得高分辨率和高衬度的图像 ◆ 结构优化，核心元件达到晶元尺度，在低压条件下，得到高分辨的成像结果 ◆ 配置真空锁装置：真空分级,从载样到抽真空成电子像时间小于30s，同时低真空观测灯丝寿命不受影响，并且软件有灯丝使用时间记录系统 ◆ 台式设计，可随意移动，防震性能良好，无需专门的防震台 ◆ 全新结构设计，极靴角度最大化，原厂能谱电镜一体化设计，数据稳定传输，后期维护方便 技术指标： 1．电子放大倍数：50X～200,000X 2．彩色光学显微镜放大倍数：15-200X，可获得明场，暗场像 3．分辩率：6nm@20KV,SED 4．加速电压：2kv – 20kv，连续可调，步径0.1KV 5．探测器： SED（高真空二次电子探测器），BSD（背散射电子探测器）/EDS(能谱仪) 6．图像大小：960*960，1920*1920，3840*3840，7680*7680 7．数据显示： Micron Bar, Magnificaiton, Date, Kv 8．电压： 110v或220v 9．可选性强，可选配原装一体化能谱仪EDS/波谱仪WDS 10．具有二次电子探测器(与通常大电镜使用的探测器同，图像质量好)，背散射电子探测器可选 11．单视场高通量采集耗时：1.3s 11．NanoAnalysis软件可选模块，功能强大 12．图像格式： JPG，TIFF，BMP，PNG Pure-SEM系统由PURE-SEM，QDD先进的探测器技术和NanoAnalysis软件组成。运用能量分散光谱（EDS/EDX）技术时，添加QDD，无液氮高速X射线探测器和 X射线NanoAnalysis软件（光谱采集模式，高级图像采集模式和高级元素绘图模式）到其中，可在几秒内分析样品的元素成分和描绘元素相关位置。激活任一高级绘图功能来确定元素的空间位置，通过使用任何以下绘图模式来完成：点式，多点式，线扫描，区域绘图，变焦绘图，索引绘图和痕量感光分析（T.S.A）的索引绘图。 NanoAnalysis系统的高级绘图功能包括索引绘图（用于图像的每个像素的一段光谱）和T.S.A（痕量感光分析），后者能测定整个样品中J微量的物质浓度。 索引绘图的最大优势是它能保存整个实验，因此你可以在任何工作地点的任何时候检索原始数据。 该系统设计成实用，易操作且购买得起的。几秒钟内从50X到200000X 变焦。自动聚焦，亮度和对比度自动调整让每张图片都很完美。